【x荧光光谱仪】X荧光光谱仪的定量分析方法解析

在包含某种元素的样品中，照射一次X射线，就会产生元素1的荧光X射线，不过这个时候的荧光X射线的强度会随着样品中元素A的含量的变化而改变。元素1的含量多，X射线荧光光谱仪的强度就会变强。注意到这一点，如果预先知道已知浓度样品的X荧光光谱仪X射线强度，就可以推算出样品中元素A的含量。

利用 X荧光光谱仪X射线 进行定量分析的时候，大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法（经验系数法）。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品，寻求想测定元素的 X荧光光谱仪X射线强度和浓度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得X荧光光谱仪X射线 ，从而得到浓度值。

手持式X荧光光谱仪

另一个方法是理论演算的基础参数法（FP法）。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个X荧光光谱仪X射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的X荧光光谱仪X射线强度的组成一致。

NBS-GSC法也称作理论Alpha系数法。它是基于X荧光光谱仪X射线激发的基本原理，从理论上使用基本物理参数计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线荧光强度的。基于此再计算Lachance综合校正系数，然后使用这些理论α系数去校正元素间的吸收增强效应。

它与经验系数法不同，这些校正系数是从“理论”上取得的，而非建立在“经验”上。因而它也不需要那么多的标样，只要少数标样来校准仪器因子。