x荧光光谱仪在矿产行业中的应用

众所周知，X荧光光谱分析仪可对矿样的元素含量作可靠的定量分析。而若对矿山价值充分利用，有一个关键前提：即需要即时获取可靠的地球化学数据，以快速描绘出矿体边界。并且也需要对矿样的元素进行一定的分析，而矿样的元素含量的定量分析对分析矿山价值有至关重要的作用。

矿山

目前，大多数采矿企业将采矿样品送到远离现场的实验室进行检测，这不仅费时费力，而且对偏远地区也不现实。它体积小，检测速度快，分析数据稳定可靠X荧光光谱分析仪必将成为矿产企业*的仪器。X荧光光谱分析仪体积小、重量轻、检测精度高、性能可靠，可广泛应用于勘探开采过程中各阶段的矿样成分分析，越来越被矿产企业所接受。X荧光光谱分析仪应用广泛，如冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等。RoHS检测领域应用较广泛。

X荧光光谱仪在阳光直射的高温和高日照下也能保持高性能，这得益于充分考虑低功耗和仪器设计X射线管在高温下及时排放，因此能承受恶劣的工作环境。其可分析元素可从镁矿中分析（Mg）到钚矿（Pu）所有83种天然矿石，包括重金属矿石Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd等等。对于高品位、精选矿石的精确品位评价，提供矿石采集和采购价值的依据，也可以对矿渣和尾矿中残留的矿石元素进行分析，在矿石开采过程、搪孔过程、研磨、浓缩、熔炼过程中进行质量检验，确定品位，分析滤熔池、储罐和钢槽溶液，快速普查大范围矿区，有效确定区域模式，绘制矿山图，实时调查现场，快速跟踪矿化异常，有效寻找热点区域，确定矿体边界具有重要作用。通过现场分析输送材料、精矿和矿渣，确定、跟踪、提炼或浓缩过程的有效性。

X荧光光谱分析仪还可以对矿场描绘以及品位控制。通过实时就地分析多个样本，实现对开采计划进行指导，有效地管理挖掘、爆破工作，在现场确定土壤、沉积物或者钻孔样本的地质成分，以有效控制勘探成本。它也能够对矿石、矿渣、土壤、沉积物以及其他类似的样品进行快速的金属元素含量分析。无论是进行原地检测还是非原地检测，功能强大的计算软件能够自动消除由于不同样品的材质差异所造成的偏差，从而使操作者仅需将仪器探测头直接接近样品便可进行检测，而无需其他任何数据输入或者进行再次校准。根据对检测精度的不同要求，测试时间仅需数秒到数分钟。

此外，X荧光光谱分析仪可以快速分析矿石样品、精矿和矿渣的金属元素成分。允许用户使用特殊的校正因素来进一步提高检测精度。它可以直接测试矿山现场收集的矿石样品，但会影响元素的等级值，因为矿石中元素的含量分布不均匀，仪器测试点不能代表整个矿石，理想的分析效果要求我们干燥矿石样品、研磨（超过160目） ，搅拌均匀，对于几个含量PPM等级元素，测试时间长，相应精度也会提高。

简而言之，的决策往往取决于现有的矿山模型、公司的经验和技术。但仅仅充分挖掘矿山价值和制定良好的采矿决策是不够的。此时，选择一个性能良好的X荧光光谱分析仪不仅节约了成本，而且非常快速，大大提高了企业的生产效率。市场上大多数人X荧光光谱分析仪也参差不齐。选择适合企业、性能优良的仪器非常重要。与国外价格高、后期维护及时性低的进口仪器相比，创意仪器近年来逐渐得到企业的认可。