x射线荧光膜厚分析仪

x射线荧光膜厚分析仪技术参数和性能介绍，x射线荧光膜厚分析仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。高精度平台可测试点，重复定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自动定位测试高度。定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。

产品技术指标

型号：Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg


http://www.tianruiyiqi.com