分析范围0-50微米
分析精度5
较薄测试0.005微米
仪器架构上照式
仪器重量90公斤
分析时间30S
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
作为国内化学分析行业的，拥有多年累积的分析测试仪器的技术和实力，产品广泛应用于有色金属行业中的地质考察、矿产、冶炼、加工、实验室研究、生产制造等环节。作为此次会议的协办方，还特地安排了学者们来公司参观考察，天瑞仪器总经理应刚热情的接待了考察团一行。
测厚仪
测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。
这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
昆山市市场局通过走访座谈、问卷调查等方式，筛选了多家企业，选取了天瑞仪器作为商业秘密示范点建设单位。会上，市场局就我公司成为昆山商业秘密保护示范点给予了充分肯定和高度评价，并为构建完善的商业秘密保护系统提出了宝贵的意见和建议，旨在进一步加强对商业秘密的管理，以促进我公司健康、稳步、飞跃发展。
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
2011年5月18日，天瑞仪器董事长刘召贵博士喜获津贴。
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