天瑞镀层分析仪制造厂商

镀层测厚仪产品详细资料介绍，镀层测厚仪配置和产品构造请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供镀层测厚仪产品原理说明书和产品报价。微米级的金属镀层厚度分析通常用到x射线荧光分析技术，由原子外层电子跃迁所产生光谱能量叫x射线荧光，不同金属的荧光光谱能级不同，从而有了成分分析和厚度分析的基础。
元素分析范围：硫（S）～ 铀（U） 
同时检测元素：多24个元素，5层镀层 
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：2ppm～99.9
镀层厚度：50μm以内（每种材料有所不同） 
任意多个可选择的分析和识别模型 
相互立的基体效应校正模型 
多变量非线性回收程序 
重复性：可达0.1
稳定性：可达0.1
操作环境温度：15℃～30℃ 
电源：交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源 
外观尺寸： 576（W）×495（D）×545（H）mm 
重量：90kg
开放式样品腔 
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动 
双激光定位装置 
铅玻璃屏蔽罩 
Si-Pin探测器 
信号检测电子电路 
高低压电源 
X光管 
高度传感器 
保护传感器 
计算机及喷墨打印机

X射线荧光镀层检测仪，型号thick800a


制造厂商：江苏天瑞仪器股份有限公司


产品图片：




主要技术指标：


1、仪器尺寸：


外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm


样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，


测试时，可开盖，对样品长度无限制


检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。


样品台尺寸：230(W)×210(D)mm


移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm


Z轴升降平台升降范围：0-140mm


2、仪器重量：90kg


3、SDD半导体探测器：  


探测器输入电压：±12V，+5V


探头窗口面积：25mm2


探头窗口厚度：0.5mil


分辨率：140±5eV


探头内制冷温度：<-40℃


4、X射线光管：


管压：5-50kV


管流：0-1mA


靶材：W靶


窗口：铍窗


制冷方式：风冷


工作温度：≤75℃


5、高压发生器：


输入电压：24V


输入大电流：5A


管压：0-50kV


管流：0-2mA


灯丝大电压：5V


灯丝大电流：3.5A


6、MCA多道分析器：


输入电压：±12V，+5V


采样频率：100 KHZ


脉冲幅度：0-7.6V


A/D位数：12位


分析道数：2048道


7、准直器系统：


准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)


滤光片：Mo(可根据要求选配)


8、高清晰摄像头： 


传感器类型：CCD（彩色）


接口：USB2.0


传感器厂商：索尼


快门类型：面阵


光学尺寸：1/4英寸


有效像素：659(H)×494（V）


有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)


像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：


感应度：0.58V（索尼标准）


颜色排列：RGB


帧率：30fps


快门速度：1/1538-1/30（秒）


9、自动对焦系统：


通用数字激光传感器、CMOS激光传感器


实现样品高度的自动对焦。

天瑞X射线膜厚测试仪性能介绍及配置：


此型号为Thick800a



详细配置信息：


一、硬件：主机壹台，含下列主要部件：  


(1)  X光管（牛津）           (2)Si-PIN电制冷半导体探测器（美国AMPTEK）  


(3)    信号检测电子电路        (4)    高精度二维移动平台


(5)    高清晰摄像头            (6) 高低压电源(SPELLMAN)


(7)  开放式样品腔            (8）双激光定位装置


(9)  铅玻璃屏蔽罩


二、软件及其他：天瑞X射线膜厚测试仪FpThick分析软件V1.0


2.1    计算机、打印机各一台


计算机（联想，内存2G,硬盘500G液晶显示屏19寸）、Intel Pentium G3220*处理器


打印机（佳能，彩色喷墨打印机）


2.2    资料：器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。


2.3    标准附件


 准直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可选其中一种）


（已内置于仪器中）


天瑞X射线膜厚测试仪产品图片：





     性能描述：
   
      满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护


天瑞X射线镀层测厚仪使用环境：


 环境温度要求：15℃-30
环境相对湿度：<70
工作电源：交流220±5V
周围不能有强电磁干扰。


天瑞X射线镀层测厚仪技术指标：



分析元素范围：K-U


同时可分析多达5层镀层


分析厚度检出限高达0.005μm


定位精度：0.1mm


测量时间：5s-300s


计数率：0-8000cps


Z轴升降范围：0-140mm


X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)






铜镀镍件膜厚仪测试谱图





样 品 名


成分Ni()


镀层Ni(um)


吊扣


100


19.321


吊扣2#


100


19.665


吊扣3#


100


18.846


吊扣4#


100


19.302


吊扣5#


100


18.971


吊扣6#


100


19.031


吊扣7#


100


19.146


平均值


100


19.18314


标准偏差


0


0.273409


相对标准偏差


0


1.425257


铜镀镍件测试值


分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）
测量时间：40秒（可根据实际情况调整）小孔径φ0.2mm
仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm，仪器重量：30kg


应用领域


X荧光镀层厚度测试仪广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业。


天瑞仪器对X射线膜厚仪提供的售后服务体系：


软件免费升级：如有软件升级，乙方将免费提供升级软件，如需上门升级按技术服务条款收取相关费用；免费保修1年， 免费保修期内，维修相关费用全免；


技术服务的响应期限：提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。


非乙方产品自身故障所造成的现场技术服务（如增加测试功能和数据校正等），乙方将按技术服务条款收取相关费用。由甲方人为造成的损伤不在上述保修条款中，具体事例双方协商解决。

X射线荧光金属电镀层厚度测试仪介绍
Thick800A是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
我公司将通过自行研发的SKYRAY远程设备智能平台对设备的运行状态进行远程协助诊断。我公司的每台在线仪器均可通过内置无线GPRS模块连接至此平台，实现仪器的远程运行诊断。
在传统的设备维护概念中，现场支持是解决问题的主要手段，而在新的技术条件下，远程协支持明显优于现场支持模式，系统数据表明，在IT行业中有不低于70的系统失败属于软件故障，其中绝大部分可以通过远程方式解决，因此说远程服务是提高工作效率，节省维护费用的有力手段。而现在的网络发展也使这一手段成为可能，在用户允许的前提下，我们的将通过远程登入的方式，快速而直接的对系统进行诊断与故障排除。
因此当电话支持不足以解决问题或故障情况比较复杂时，我们的技术人员将在甲方技术人员的协助下，通过远程登录进入用户的局域网。我们的技术人员在用户技术人员的协助下确定故障原因，找出解决问题并排除问题的办法。
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