电镀层膜厚测量仪

电镀层膜厚测量仪产品详细资料介绍，电镀层膜厚测量仪配置和产品构造请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供电镀层膜厚测量仪产品原理说明书和产品报价。微米级的金属镀层厚度分析通常用到x射线荧光分析技术，由原子外层电子跃迁所产生光谱能量叫x射线荧光，不同金属的荧光光谱能级不同，从而有了成分分析和厚度分析的基础。
X射线膜厚仪能够在几十秒的时间实现金属电镀层的厚度检测，比传统的电解式测厚仪具有更好的测试效率和分析精度，目前已经成为电镀加工企业，首饰加工行业，PCB电路板工业，五金件加工，紧固件表面，汽车部件厂家，通信连接件等生产企业，解决膜厚测试的标准分析方法。


X射线膜厚仪图片：



技术指标：


X射线光管：


管压：5-50kV


管流：0-1mA


靶材：W靶


窗口：窗


制冷方式：风冷


工作温度：≤75℃




高压发生器：


输入电压：24V


输入大电流：5A


管压：0-50kV


管流：0-2mA


灯丝大电压：5V


灯丝大电流：3.5A




SDD半导体探测器：


探测器输入电压：±12V，+5V


探头窗口面积：25mm2


探头窗口厚度：0.5mil


分辨率：140±5eV


探头内制冷温度：<-40℃




自动对焦系统：


通用数字激光传感器、CMOS激光传感器


实现样品高度的自动对焦。




MCA多道分析器：


输入电压：±12V，+5V


采样频率：100 KHZ


脉冲幅度：0-7.6V


A/D位数：12位


分析道数：2048道




准直器系统：


准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)


滤光片：Mo(可根据要求选配)




高清晰摄像头：


传感器类型：CCD（彩色）


接口：USB2.0


传感器厂商：索尼


快门类型：面阵


光学尺寸：1/4英寸


有效像素：659(H)×494（V）


有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)


像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：


感应度：0.58V（索尼标准）


颜色排列：RGB


帧率：30fps


快门速度：1/1538-1/30（秒）




仪器尺寸：


外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm


样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，


测试时，可开盖，对样品长度无限制


检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。


样品台尺寸：230(W)×210(D)mm


移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm


Z轴升降平台升降范围：0-140mm




X射线膜厚仪能满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。高精度移动平台可测试点，重复定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。高分辨率探头使分析结果更加精准。良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。








江苏天瑞仪器股份有限公司是生产能量色散X射线膜厚仪的高科技公司，成立于1992年，是国内在创业板上市的家高科技分析仪器公司。主营产品X射线膜厚仪thick800a曾于2011年荣获科学仪器产品奖， 产品符合国家计量合格要求。提供完善的售后服务：


1，所出售本合同所规定的仪器进行维修，免费提供升级软件。
2，提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。
3，负责培训操作人员，培训内容为仪器分析原理、结构、操作、维护保养、简单维修、软件使用、方法建立、样品测试等。

金属镀层厚度分析仪产品介绍


江苏天瑞仪器股份有限公司生产销售金属镀层厚度分析仪THICK800A用于铜镀银层厚度的测试。天瑞仪器作为国内家创业板上市的分析仪器尝试，其主营产品Thick800A已经成为镀层行业检测的标准仪器，几乎60的企业使用thick800a来检测金属镀件的厚度。它的薄测试达0.005微米，分析误差在5以内。同时可分析多层电镀，合金层电镀，PCB镀金，通信连接件，镀铬，镀镍，镀锌，镀锡的厚度。




仪器配准样品台：XY轴可控制、Z轴自动控制，可调高度为0-14cm


镀层测厚仪，镀层膜厚仪，电镀膜厚仪，金属镀层膜厚仪，镀层膜厚测试仪，X射线荧光测厚仪，X射线镀层测厚仪，X荧光镀层测厚仪，XRf膜厚测试仪，X-ray测厚仪，厚度测量仪器，X荧光光谱仪检测金属电镀层厚度，国产XRF膜厚仪，镀金层厚度测试仪，铜镀银测厚仪，锌层测厚仪，铁镀铬测厚仪，铁镀锌测厚仪


技术参数：


元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg


应用领域


黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和机构；电镀行业。

X射线荧光测厚仪是采用上照式设计的，自带三维移动平台，满足各种不规则样品的金属镀层厚度测试。X射线荧光测厚仪的检测范围是0至50微米之间，测试误差在5以内，薄科测到0.005微米。XRF镀锌层测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。


XRF镀锌层测厚仪应用领域


黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和机构；电镀行业


XRF镀锌层测厚仪性能特点


满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护


XRF镀锌层测厚仪技术指标


型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg


XRF镀锌层测厚仪标准配置


开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

X射线金属膜厚度检测仪thick800a具有良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。能够满足各种金属层不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，高精度移动平台可测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加精准。天瑞仪器X-ray镀层测厚仪Thick800A是基于X射线荧光无损分析原理的快速镀层测验，是一款上招式设计的，自带三维移动平台，XYZ可定点，在镀层检测中可谓大展身手。

技术指标
SDD半导体探测器：探测器输入电压：±12V，+5V，探头窗口面积：25mm­2­­­，探头窗口厚度：0.5mil，分辨率：140±5eV，探头内制冷温度：<-40℃。
X射线光管：管压：5-50kV，管流：0-1mA，靶材：W靶，窗口：窗，制冷方式：风冷，工作温度：≤75℃。
高压发生器：输入电压：24V，输入大电流：5A，管压：0-50kV，管流：0-2mA，灯丝大电压：5V
，灯丝大电流：3.5A
MCA多道分析器：输入电压：±12V，+5V，采样频率：100 KHZ，脉冲幅度：0-7.6V，A/D位数：12位
分析道数：2048道
准直器系统：准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)，滤光片：Mo(可根据要求选配)
高清晰摄像头：传感器类型：CCD（彩色），接口：USB2.0，传感器厂商：索尼，快门类型：面阵，光学尺寸：1/4英寸，有效像素：659(H)×494（V），有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：感应度：0.58V（索尼标准）
颜色排列：RGB
帧率：30fps
快门速度：1/1538-1/30（秒）
自动对焦系统：通用数字激光传感器、CMOS激光传感器
仪器尺寸：
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
测试时，可开盖，对样品长度无限制
检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。
样品台尺寸：230(W)×210(D)mm
移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm

应用领域：
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和机构；电镀行业。
样品测试谱图，高清，谱线明显。：

江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技（仙桃）有限公司五家全资子公司和厦门质谱仪器仪表有限公司、江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限。的400热线，7*在线，4小时响应，上门服务。
售后服务：
公司本着“客户至上、快捷、诚信务实、价格合理"的经营合作理念,为您提供快速的技术服务。产品送货上门，培训安装，耗材配件，实验室打包解决方案。
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和机构；电镀行业。
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技（仙桃）有限公司五家全资子公司和厦门质谱仪器仪表有限公司、江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司三家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
公司被授予 “计划重点”，“江苏省”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内重点软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。产品具有国际的技术水平，X荧光光谱仪系列产品被认定为“重点新产品”和“江苏省产品”。产品品种齐全，为环境保护与、工业测试与分析及其它领域提供解决方案。
技术服务车队，接到客户问题，迅速上门服务。
售后服务：
公司本着“客户至上、快捷、诚信务实、价格合理"的经营合作理念,为您提供快速的技术服务。产品送货上门，培训安装，耗材配件，实验室打包解决方案。

http://www.tianruiyiqi.com