土壤xrf测定 设备 生产厂家

ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍，ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力，对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪，是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
RoHS是由欧盟立法制定的一项强制性标准，它的全称是《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》（Restriction
 of Hazardous 
Substances）。ROHS检测仪,ROHS测试仪器该标准将于2006年7月1日开始正式实施，主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准，使之更加有利于人体健康及环境保护。该标准的目的在于消除电机电子产品中的铅、汞、镉、六价铬、和醚共6项物质，并重点规定了铅的含量不能超过0.1。其中涉及到的铅主要出处有以下几类。
[编辑本段]欧盟RoHS和WEEE指令的基本内容
欧盟议会及欧盟会于2003年2月13日在其《公报》上发布了《废旧电子电气》设备指令（简称《WEEE指令》）和《电子电气功设备中限制使用某些有害物质指令》（简称《RoHS指令》）
《RoHS指令》和《WEEE指令》规定纳入有害物质限制管理和报废回收管理的有类102种产品，前七类产品都是我国主要的出口电器产品。ROHS检测仪,ROHS测试仪器包括大型家用电器、小型家用电器、信息和通讯设备、消费类产品、照明设备、电气电子工具、玩具、休闲和运动设备、设备（被植入或被感染的产品除外）、监测和控制仪器、自动售卖机。

天瑞产品--信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上。
EDX1800B 规格参数
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
多次测量重复性可达0.1（含量96以上）
长期工作稳定性为0.1（含量96以上）
温度适应范围为15℃至30℃

EDX采用新一代的铍窗X大功率光管，比市场上其它同类设备寿命提高了5000小时，为了压缩成本，在产品结构优化和硬件上进一步高质设计，减少一些不必要的-客户在实际使用中并用不上的软硬件配置，很大程度上节省了产品的成本费用，使得成本降低20多，直接让利给客户。成为市场上的畅销型产品。成为很多小型工厂的。在应用上属于通用型产品，应用于一切材料的ROHS和无卤检测，EDX5500对被检测材料的种类，化学或物理性质都没有限制，无论是成品，或半成品，无论是金属，塑胶，皮革，化工，鞋材，合成料，固体，液体，粉末等，都能准确，无损，快速地检测。EDX5500-ROHS检测仪器，广泛应用于塑胶，五金，电子电器，化工等生产和制造领域环保临测。
技术参数
测量元素范围 ：硫（S）～铀（U）包含ROHS和卤素的所有元素。可以准确定量。测量时间：200S
配新算法的ROHS分析软件，卤素分析软件，材料成份分析软件，软件算法专利为德国。
检出限：分析检出限可达1ppm。含量范围：1ppm～99.9稳定性：0.01管压：5～50KV管流：≤1000uA探测器：SDD探测器，分辨率可达135eV准直器：10种准直器自动切换滤光片：6种滤光片自由切换样品观察：高清工业摄像头环境湿度：≤70环境温度：15℃～30℃电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）

如何选择ROHS检测仪呢？作为的 rohs检测仪生产商，可以从以下几方面入手考虑，
 先要考察公司的实力，与购买其他产品一样，要购买XRF，我们需要了解该是不是在RoHS指令期间出现。我们都知道仪器技术依赖于积累和沉淀，如果这个公司没有长时间的技术积累，只是为RoHS而生。没有市场认可度很可能突然蒸发，用户将做什么以及谁将负责服务？ 
  除了测试RoHS指令测量的元素外，仪器的某些XRF还具有其他功能。有XRF还具有厚度测量功能。以及其它成分的分析。
仪器的性能是购买仪器非常重要的指标。为什么仪器的价格相差较大，主要原因是仪器的心脏，探测器
探测器分辨率的高低决定了仪器的价格和主要性能
分析原理：
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪，其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=KE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
http://www.tianruiyiqi.com