x射线测厚仪手册

镀层测厚仪产品详细资料介绍，镀层测厚仪配置和产品构造请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供镀层测厚仪产品原理说明书和产品报价。微米级的金属镀层厚度分析通常用到x射线荧光分析技术，由原子外层电子跃迁所产生光谱能量叫x射线荧光，不同金属的荧光光谱能级不同，从而有了成分分析和厚度分析的基础。
天瑞仪器是全球的X射线荧光测厚仪制造商，公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技（仙桃）有限公司五家全资子公司和厦门质谱仪器仪表有限公司、江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司三家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。




元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
X射线荧光镀层测厚仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度。定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加精准，良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。



同，仪路携手志凌空，荆棘斩，齐心向前冲；
庆，欢歌笑语倾耳听，众心悦，来贺天瑞名；
华，廿五时光蓝图画，举目望，此身居高塔；
诞，初创之时行路难，唯志坚，誓把明月揽；
共，分析检测把脉中，心连心，众人势如虹；
谱，各展所长鼎力助，再廿五，还与良辰住；
新，踏浪乘风破坚冰，看我辈，合力聚心行；
章，喜见前程灿烂光。愿百年，依旧世无双



发展历程：
2011年1月25日，天瑞仪器在深证创业板块上市。代码为300165。
2011年4月25日，天瑞仪器推出SUPER XRF 2400，其超微量元素检测的特功能将传统XRF性能提升数倍。
2011年4月26日，在2011中国科学仪器发展年会上，天瑞仪器被授予“2010年度具影响力国内仪器产商”及“2010年度佳网络营销奖”。
2011年5月18日，天瑞仪器董事长刘召贵博士喜获津贴。

X射线膜厚仪能够在几十秒的时间实现金属电镀层的厚度检测，比传统的电解式测厚仪具有更好的测试效率和分析精度，目前已经成为电镀加工企业，首饰加工行业，PCB电路板工业，五金件加工，紧固件表面，汽车部件厂家，通信连接件等生产企业，解决膜厚测试的标准分析方法。


X射线膜厚仪图片：



技术指标：


X射线光管：


管压：5-50kV


管流：0-1mA


靶材：W靶


窗口：铍窗


制冷方式：风冷


工作温度：≤75℃




高压发生器：


输入电压：24V


输入大电流：5A


管压：0-50kV


管流：0-2mA


灯丝大电压：5V


灯丝大电流：3.5A




SDD半导体探测器：  


探测器输入电压：±12V，+5V


探头窗口面积：25mm2


探头窗口厚度：0.5mil


分辨率：140±5eV


探头内制冷温度：<-40℃




自动对焦系统：


通用数字激光传感器、CMOS激光传感器


实现样品高度的自动对焦。




MCA多道分析器：


输入电压：±12V，+5V


采样频率：100 KHZ


脉冲幅度：0-7.6V


A/D位数：12位


分析道数：2048道




准直器系统：


准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)


滤光片：Mo(可根据要求选配)




高清晰摄像头： 


传感器类型：CCD（彩色）


接口：USB2.0


传感器厂商：索尼


快门类型：面阵


光学尺寸：1/4英寸


有效像素：659(H)×494（V）


有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)


像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：


感应度：0.58V（索尼标准）


颜色排列：RGB


帧率：30fps


快门速度：1/1538-1/30（秒）




仪器尺寸：


外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm


样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，


测试时，可开盖，对样品长度无限制


检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。


样品台尺寸：230(W)×210(D)mm


移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm


Z轴升降平台升降范围：0-140mm




X射线膜厚仪能满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。高分辨率探头使分析结果更加精准。良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。








江苏天瑞仪器股份有限公司是生产能量色散X射线膜厚仪的高科技公司，成立于1992年，是国内在创业板上市的家高科技分析仪器公司。主营产品X射线膜厚仪thick800a曾于2011年荣获科学仪器产品奖， 产品符合国家计量合格要求。提供完善的售后服务：


1，所出售本合同所规定的仪器进行维修，免费提供升级软件。
2，提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。
3，负责培训操作人员，培训内容为仪器分析原理、结构、操作、维护保养、简单维修、软件使用、方法建立、样品测试等。

天瑞仪器有限公司生产的XRF镀层测厚仪在电镀检测行业中， 针对上述五项需求的应用：
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析；
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测，检测环境里的重金属是否超标。
同时具有以下特点
快速：1分钟可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可仪器状态，设定仪器参数，并有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。

X射线镀层膜厚测厚仪可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。 电镀是国民经济中必不可少的基础工艺性行业，同时又是重污染行业。电镀所带来的废气、废水、废渣严重地影响人们的生活与健康。要提高电镀企业的实力必须从企业的硬件着手。而内部管控测试是必不可少的环节，其中产品膜厚检测、RoHS有害元素检测、电镀液分析、电镀工业废水、废渣中的重金属检测和水质在线检测等更是重中之重。为此江苏天瑞仪器股份有限公司基于强大的研发和应用能力特别为电镀行业制定了一套有效的测试解决方案。
镀层膜厚检测：有效进行镀层厚度的产品质量管控
电镀液分析：检测电镀液成分及浓度，确保镀层质量
水质在线监测：有效监测电镀所产生的工业废水中的有害物质含量，已达到排放标准
RoHS有害元素检测：为电镀产品符合RoHS标准，严把质量关
重金属及槽液杂质检测：有效检测电镀成品，以及由电镀所产生的工业废水、废物中的重金属含量
天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商，一直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念，以提高顾客满意度为根本目标，从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供的服务。
    我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、、巡检等全过程、、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务，更为客户创造了更高的价值。
“快速、准确、到位”的服务
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低维护费用
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