苏州天瑞仪器XRF光谱分析仪
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产品描述

元素范围从硫到铀 分析时间30s-200s 分辨率145ev 测试精度0.005 重复性0.1 适用环境15-30度
XRF产品原理和参数详细介绍,XRF技术说明和资料请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供XRF光谱仪报价和培训手册。XRF由于无需化学前处理,快速分析,一键测试操作简单的特点,以及适用范围广德优势深受实验室人员的欢迎。
国产XRF测试仪EDX3600K配置:
铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
超薄窗X光管
信噪比增强器SNE
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互立的基体效应校正模型
国产XRF测试仪技术参数:
X射线源:50KV、1mA
样品腔体积:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X荧光分析方法
测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(U)]之间的元素均可测量
检测元素:同时分析元素达三十多种,可根据客户需要增加元素
含量范围:ppm~99.99
检测时间:10秒以上
检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率 为144±5eV,可选配速探测器低至125eV
激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
摄像头:高清摄像头
测井环境:超真空系统,10秒可抽到10Pa以下,大气、氦气均可以
准直器和滤光片:四组准直器(7、5、3、1mm),6种滤光片组合自动切换
自旋装置:可调速的自旋装置
检出限:对样品中的大多数元素来说,低检出限达5~500ppm
真空系统:超真空系统,10秒可到10Pa
数据传输:数字多道技术,快速分析,高计数率
测试台:360°电动旋转式
保护系统:样品腔为电动控制,上盖打开时测试已完成
样品放置:特的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动
数字多道技术:计数率>50kcps,有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作环境湿度:≤90
操作环境温度:15℃~30℃
苏州天瑞仪器XRF光谱分析仪
XRF仪器可实现痕量、微量及常量元素分析,现场原位分析以及在线测量等功能。被广泛应用于RoHS、有害元素检查、工业现场成分分析、贵金属检测、废旧金属回收、地质勘探、环境监测、考古研究、镀层层厚分析、食品监测以及生物、化学、药物等众多领域中。XRF仪器因其具有测试快速、操作简便等特点已被各个行业认可,成为理化实验室的重要工具。XRF仪器的出现替代了一部分老旧测试方法与设备,提高了各行业的检测能力,是野外现场分析和过程控制分析等方面仪器之一,XRF技术的发展为中国经济快速发展提供了巨大的助力,我相信未来XRF技术还会有更多更广的作为被发现。
新老产品更新换代,新市场正在扩展
随着市场机制的日益完善及政策导向的明确,未来几年,XRF企业将以老产品更新换代、新市场不断扩展为主要任务,重点围绕生命科学、农业和食品、材料科学、环境与能源等直接关系到人类生存和发展学科和领域的需求。
苏州天瑞仪器XRF光谱分析仪
全新开发研制的EDX 9000C不仅继承了天瑞仪器EDX系列准确、快速、无损、直观及环保的特点,更采用了分析仪器行业的速探测器技术(X-SDD)可将测试时间降低到1秒,能够快速检测出有害元素,为汽车行业重金属超标问题提供有效解决方案。EDX 9000C采用了天瑞仪器专利产品精密的定位系统,可实现图像联动控制,多点连续测试。新增加电动开关的样品腔使操作更加方便,全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。
快—1秒钟出结果 
采用行业的速探测器技术——(X-SDD)分辨率低至125eV
优势:探测面积大(面积达25mm2)、单位时间内接受信息多、计数率高、分辨率好,探测效率更高,探测信噪比更强,检出限更低 
采用行业的数字多道技术 
优势:有效提高输出效率,实现计数率,保证采集有效计数率高可达1000Wcps
采用大功率X光管及的准直滤光系统 
优势:激发效率更高 
光闸系统 
优势:样品更换无需关闭高压,提高测试效率与测试精度 
精密的定位系统 
清晰工业摄像头,更清晰的显示测试点 
多点测试 
2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制,多点连续测试 
超小样品检测——小可测到0.2毫米 
8种准直器、4种滤光片快速切换功能,可根据不同样品进行选择 
准直器小可达0.2毫米,针对超小样品可准确聚焦检测 
人性化的设计 
更:X射线联动装置——光闸与联动装置互动;仪器外壳与高压使能端相联动 
更快捷:多点测试,点哪测哪 
预约预热:根据设定时间,仪器可定时开始测试 
预约开机预热功能:客户可预约仪器开机时间,同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态;同时可以实现预约关机, 
关机前可设定声光提示
苏州天瑞仪器XRF光谱分析仪
技术指标:
元素分析范围:硫(S)~铀(U) 
检出限:1ppm
分析含量:ppm~99.99 
重复性:0.1(含量96以上) 
稳定性:0.1(含量96以上) 
环境温度:15℃~30℃ 
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源 
能量分辨率:160±5eV
样品腔尺寸:460mm×298mm×98mm
仪器尺寸:550mm×416mm×333mm
仪器重量:45kg
仪器配置:
移动样品平台 
信噪比增强器 
电制冷Si-PIN探测器 
信号检测电子电路 
高低压电源 
新型X光管 
计算机及喷墨打印机
EDX4500P应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素、红磷管控)
EDX 4500P  X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对ROHS重金属元素以及磷元素进行快速、准确、无损分析。
红磷作为阻燃剂来管控,虽然暂时并未纳入RoHS管控,但是目前限于市场要求,很多国际客户如松下、索尼、三星、LG、海尔等都对此对红磷要求。我司推出一款针对ROHS+无卤+无磷仪器EDX4500P.该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。 另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
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