X射线荧光光谱仪(真空型)配置真空测试系统以及SDD（硅漂移）探测器，元素测试范围更广、检出限更低、数据稳定性更好。广泛应用于电子、电器、塑胶塑料、五金、玩具、包装印刷以及产品等公司内部进行质量把控。适用于ROHS检测、卤素测试、玩具重金属检测和合金元素分析等各领域使用。
探测器：美国Amptek SDD探测器，高速脉冲分析系统；
2、高压电源：美国Spelln (50kv/)；
3、X射线管：新型X光管；
4、能量分辨率：140±5ev；
5、元素分析范围：钠（Na）到铀（U）；
6、分析含量：1ppm到99.99%；
7、测量时间：60—300s；
8、交流220v供电设备，1KVA交流净化稳压电源；
9、工作温度：10—30℃；
10、测量条件：大气环境；
适应各种合金成分分析
高分辨率高稳定性探测器
可靠、稳定高压电源和X光管，测试结果稳定、准确
、准确、多元的分析软件和分析方法
软硬结合的防设计
自动设置参数和滤光片
操作简单，一键式操作设计
快速无损分析样品
超温保护，超载保护
无需耗材
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05%
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
设备可以有效的对检测、镉、铅、、铜、锌、镍、钴、钒等引起土壤及固废污染：主要来自厂矿排放的含废水，能在土壤中长期存在；镉、铅污染主要来自冶炼排放和汽车废气沉降，如公路两侧的土壤易受铅的污染；土壤的污染主要来自大量用作、剂、 杀鼠剂、除草剂和硫化矿产的开采、选矿、冶炼。
l 土壤重金属普查：
超高精度分析，微量金属元素成分尽在掌握。可以对各类居住用地、商业用地、工业用地等一级二级用地进行大量的土壤重金属分析普查
l 大量土壤重金属污染样筛查
通过自动进样器对大量污染样器行自动分析。可以在很短的时间内圈点重点土壤污染区，进行重点优选治理。快速分别污染区与非污染区。整体提高了筛查生产效率，极大的减少化验和运输费用。
l 高性能配件提升效果
选用自主研制的数字多道及原装进口超高分辨率探测器，提高设备的稳定性及元素之间的相互干扰，并提高了元素的检出限。
SEE 100
SEE 100属于江苏天瑞仪器股份有限公司的产品，设备采用了能量色散X射线荧光光谱技术实现土壤中微量金属有害元素的快速检测，设备采用了的探测器和激发源等硬件配置。SEE 100荧光光谱仪，能够快速、准确地分析土壤中金属元素；K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Pb、As、Ga、Rb、Y、Ba、Sr、Br、Th、Zr、Cd、Hg等元素的检出限和定量限完全满足HJ 780-2015环境保护标准要求。
技术指标
产品型：SEE 100
产品名称：土壤重金属分析仪
测量元素范围：从硫（S）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测30种以上元素
测量时间：60秒-300秒
探测器能量分辨率为：可达125eV
管压：5KV-55KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
天瑞仪器新研发的仪器，针对于水泥行业，矿产行业等研发出来的，内置自动转盘，可同时测试多个样品，操作简单方便
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：ppm—99.99%(不同材质，分析范围不同)
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
检测限：RoHS指令规定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限达ppm级
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60秒—200秒
工作温度:15℃—30℃
工作湿度：≤70%
工作电压：AC 110V/220V
标准配置
超薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
内置高清晰摄像头
光路增强系统
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 510×589×350 mm
样品杯尺寸（10个）：40.7×26mm
重量：55Kg
应用领域
水泥检测
钢铁和有色金属检测
矿料分析
RoHS检测
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