XRF测试仪产品特点：操作界面简单，测量方便，快捷无损检测，在无标准样品时亦可准确分析采用1275eV的高精度分辨率，保证数据测量的精度。进口DSP数字处理芯片能够检测卤族元素的含量电控全自动机盖升降软件控制同置高清晰摄像头，可帮助客户判断测量的部位电制冷型的X光管配合光管保养程序，散热更好，并能有效的X光管的寿命外观高贵，加大仪器内部空间，仪器内部通风性优，并有效屏蔽电磁干扰采用特位快速自动校准。自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成国际ling先的定量分析算法，包含FP法、检量线法、经验系数法、理论系数法、网络算法等客户可根据自已的要求进行二次开发，自行开发任意多个分析方法设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用。
XRF测试仪产品介绍及应用范围：环保是世界的潮流，不断出现的环境污染事件，世界各国都陆续了相关控制商品中有害元素含量的法规，而且对有害元素的限制值呈日渐降低的趋势。面对这市场需求，秉谱仪器，无微不至的精神，采用新技术，特别设计了520L系列的X荧光光谱仪。应用领域：金属冶金行业微量元素的分析及金属中微量有害元素的分析环保土壤、空气及水等介质中痕量重金属的分析金属成品制造行业树脂膜层中微量元素的分析,贵金属行业中微量对人体有害元素微量元素的分析,稀土行业中微量元素的分析,金属镀层行业金属镀层亚纳米级厚度的分析,外贸出口行业中对人体有害元素微量的分析,玩具出口行业中中金属微量元素的分析.
天瑞仪器公司是全球生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球的合金分析技术，配备合金测试效果的智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。
EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试开发的仪器类型。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。
性能特点:
超薄窗X光管，指标达到国际水平
针对合金的测试而开发的配件
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE），提高处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性；
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制；
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
标准配置：
合金测试超薄窗X光管
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
信噪比增强器 SNE
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技术指标：
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
分析精度：0.05%（含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性）
测量时间：60秒-200秒
能量分辨率为：（140±5）eV
管压：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA
应用领域：
检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品
超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
钢铁行业测试配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
XRF分析仪器是利用X射线无损检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
性能特点
超薄窗X光管，指标达到国际水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到0CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
技术参数
产品型：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
标准配置
超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）
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