X射线膜厚仪器产品介绍
X射线膜厚仪器服务江苏天瑞仪器股份有限公司生产X射线莫厚仪器。Thick800A能够在几十秒的时间实现金属电镀层的厚度检测，比传统的电解式测厚仪具有更好的测试效率和分析精度，目前已经成为电镀加工企业，首饰加工行业，PCB电路板工业，五金件加工，紧固件表面，汽车部件厂家，通信连接件等生产企业，解决膜厚测试的标准分析方法。
X射线膜厚仪图片：
技术指标：
X射线光管：
管压：5-50kV
管流：0-1
材：W
窗口：铍窗
制冷方式：风冷
工作温度：≤75℃
高压发生器：
输入电压：24V
输入电流：5A
管压：0-50kV
管流：0-2
灯丝电压：5V
灯丝电流：3.5A
SDD半导体探测器：
探测器输入电压：±12V，+5V
探头窗口面积：25mm 2
探头窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探头内制冷温度：<-40℃
自动对焦系统：
通用数字激光传感器、CMOS激光传感器
实现样品高度的自动对焦。
MCA多道分析器：
输入电压：±12V，+5V
采样频率：100 KHZ
脉冲幅度：0-7.6V
A/D位数：12位
分析道数：2048道
准直器系统：
准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)
滤光片：Mo(可根据要求选配)
高清晰摄像头：
传感器类型：CCD（彩色）
接口：U2.0
传感器厂商：索尼
快门类型：面阵
光学尺寸：1/4英寸
有效像素：659(H)×494（V）
有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：
感应度：0.58V（索尼标准）
颜色排列：RGB
帧率：30fps
快门速度：1/1538-1/30（秒）
仪器尺寸：
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
测试时，可开盖，对样品长度无限制
检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。
样品台尺寸：230(W)×210(D)mm
范围：50(X)mm， 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围：0-140mm
X射线膜厚仪能满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点。高分辨率探头使分析结果更加。良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。
江苏天瑞仪器股份有限公司是生产能量色散X射线膜厚仪的高科技公司，成立于1992年，是国内在创业板上市的家高科技分析仪器公司。主营产品X射线膜厚仪thick800a曾于2011年荣获科学仪器产品奖， 产品符合计量合格要求。提供完善的售后服务：
1，所出售本合同所规定的仪器进行维修，免费提供升级软件。
2，提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人维修和排除故障。
3，负责培训操作人员，培训内容为仪器分析原理、结构、操作、维护保养、简单维修、软件使用、方法建立、样品测试等。
X射线膜厚仪，涂镀层测厚介绍
X射线膜厚仪，涂镀层测厚服务电话江苏天瑞仪器股份有限公司生产X射线膜厚仪，涂镀层测厚解决厚度测试。性能特点
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点，良好的射线屏蔽作用，技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
任意多个可选择的分析和识别模型。
多变量非线性回收程序
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
标准配置
精密二维样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维。
铅玻璃屏蔽罩。
检测电子电路。
X光管。
保护传感器
应用领域
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
<n font-size:14px;color:#414141;line-height:22px;background-color:#ffffff;"="">主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技（仙桃）有限公司五家全资子公司和厦门质谱仪器仪表有限公司、江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限
售后服务：
公司本着“客户至上、快捷、诚信务实、价格合理"的经营合作理念,为您提供快速的技术服务。产品送货，培训安装，耗材配件，实验室打包解决方案。
的400售后维修，7*在线，4小时响应，。
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X射线荧光镀层测厚仪Thick800A可全自动软件操作，可多点测试
技术指标
型：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
Thick800A金属测厚仪比其他优势：
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
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膜厚仪电涡流测量原理
高频交流在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，的频率不同，的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。
采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。
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