元素范围从硫到铀
检测限1ppm
重复性0.1
测试误差15%
分辨率160ev
X光管0-50kv
电源电压220V
环境温度15-30度
ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍,ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力,对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪,是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
X荧光光谱测试仪器用于检测rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六价Cr以及总Br、Cl等元素含量的仪器,X荧光光谱测试仪器适合塑料,电子电子,玩具,皮革,线路板,汽车内饰,设备等是否符合欧盟指令标准的检测仪器。

对一些元素有很好的检测下限以及精度。综合应用FP法、网络法、经验系数法、基本参数法分析软件。精心设计的开放性工作曲线功能,特别适用于多材料的工厂制程控制。
适用于:五金、接插件、电子,电气,连接器,电镀,PCB,塑料,皮革,鞋材等来料的ROHS分析,重金属分析。
产品特点:
1、从硫(S)到铀(U)的快速元素分析;
2、检测灵敏度高;
3、测量时间短;
4、彩色CCD系统用于样品图像观察;
5、有多种规格的准直器和滤光片选用,自动切换,满足各种物质测试方式应用;
6、电制冷探测器,提高测量稳定性,提高分析的准确性,无需耗材;
7、机械结构简单,可靠;
8、定性定量分析算法:FP基本算法,经验系数法、网络法、基本参数法;
9、全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关设计,更好地**操作员的人身。流水线型外观,美观,仪器内部空间大样品腔,仪器内部通风性优,并有效屏蔽电磁干扰;
10、超短光路设计,风冷型的X光管配套特有的光管管控程序程序,散热更好,良好的散热系统,更能保证仪器的超长使用,并能有效的X光管的寿命;
11、上照式:可满足各种形状样品的测试需求,样品成像准直系统,实现对样品的准确点测;
12、自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成,设置了自动防护开关,以确保用户使用。

如何选择ROHS检测仪呢?作为的 rohs检测仪生产商,可以从以下几方面入手考虑,
先要考察公司的实力,与购买其他产品一样,要购买XRF,我们需要了解该是不是在RoHS指令期间出现。我们都知道仪器技术依赖于积累和沉淀,如果这个公司没有长时间的技术积累,只是为RoHS而生。没有市场认可度很可能突然蒸发,用户将做什么以及谁将负责服务?
除了测试RoHS指令测量的元素外,仪器的某些XRF还具有其他功能。有XRF还具有厚度测量功能。以及其它成分的分析。
仪器的性能是购买仪器非常重要的指标。为什么仪器的价格相差较大,主要原因是仪器的心脏,探测器
探测器分辨率的高低决定了仪器的价格和主要性能

X射线荧光光谱仪有多种,以能量色散和波长色散为主。
1. 能量色散荧光光谱仪
能量色散型仪器大的优点是不破坏被测的材料或产品,也不需要人员操作,缺点是对铬和溴是总量测定(一般不影响使用,因为很多情况可以判定,如测铬总量超标,常可知是不是六价铬超标,特别是溴,如被作为阻燃剂加入,不管是那种溴,总量超标就不合格)。
进口或国产的各种能量色散荧光光谱仪技术水平虽有差别,但已够应对RoHS检测,用户应根据自己的能力来选购国产或进口的。国产的XR-306能量色散X射线荧光光谱仪也能满足RoHS的检测。
2.波长色散荧光光谱仪。
此种仪器的灵敏度比能量色散的高一个数量级,也就是说,所测的数据并不存在“灰色地域”,不存在测定后还需拿到检测机构复检。但仪器的价格比能量色散的贵很多,
特别是进口的百万元以上,所以没有外国公司建议用。仪器操作和能量色散一样,不需要人员。
国产BX-100R是波长色散荧光光谱仪。价格比进口的能量色散型的还便宜,使用寿命也比能量色散的长一倍(主要指探测器,能量型的一般为5年,波长型的一般为10年)。
波长型大优点是用在原材料厂上,其测定的数据准确,给生产厂以确信的合格材料。
缺点是,波长法需将被测材料粉碎压制成样本后测才准确。所以,用在材料厂适合。如不制成样本(非破坏),会因材料表面形状不同而产生不同误差。
分析原理:
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪,其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=KE
式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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