天瑞ROHS卤素检测仪

‌RoHS检测仪的原理主要基于X射线检测原理‌：
X射线是一种波长较短的电磁，其能量范围在0.1~100keV。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。当物质中的组成元素受到激发时，会产生特征，即X射线荧光。通过测量和分析样品产生的X射线荧光，可以获得样品的元素组成，进而进行定性和定量分析‌1。
供应商主营：
21鞋材含铅测试仪,ROHS测试仪,手持式含铅测试仪-产品详情供应美国Innov-X分析仪,铅含量分析仪,含铅测试仪
 美国伊诺斯RoHS分析仪可分析铅，镉，溴,铬,等元素，全面应对ROHS。WEEE指令供应信息
 数量：1
 交货：
 其它要求：适用塑料部件、金属部件、电子组件中铅、、镉、总铬、总溴的测试。
 在无铅生产领域，Innov-XAlpha分析仪是当前速度快、价格理想、性能的识别仪器。一旦确定了理想的铅与铅合金的替代材料，或者是确定在某些特定应用上还得继续使用铅的话，质量控制测试必须得到重视与实施。而且，关键部件的提供商必须恰当地标识所用材料。同样，生产商在使用前也必须确认材料组成。

国际的定量分析算法，包含FP法、检量线法、经验系数法、理论系数法、网络算法等

客户可根据自已的要求进行二次开发，自行开发任意多个分析方法

设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用。

德谱DX320ROHS测试仪X射线光谱仪应用范围：

针对企业应对欧盟、北美RoHS环保指令精心设计。不但可以测试RoHS指令中的铅、、镉、铬、锑、硒、等重金属，还能测试无卤素指令的溴、氯等有害元素及金属镀层。已在有色金属、连接器、端子、印刷、玩具、服饰、设备、地矿、电子、电器、五金、PCB、半导体、通信、电镀、首饰、手表、汽车、钢铁、鞋材、皮革等行业得到广泛应用。

江苏天瑞仪器股份有限公司研发制X射线ROHS测试仪EDX4500H型的X射线荧光光谱仪，利用XRF检测原理实现对元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
性能特点
RoHS检测，亦可用于镀层检测和全元素分析
内置信噪比增强器可有效提高仪器处理能力2以上
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片
电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷
智能RoHS检测软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单
超薄窗X光管，指标达到国际水平
新的数字多道技术，让测试，计数率达到0CPS，精度更高。在合金检测中效果
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

仪器技术指标：
1、分析元素范围：从硫（S）到铀（U）
2、测试对象：固体、粉末、液体
3、元素含量分析范围：1ppm—99.99% 
4、同时分析元素：几十种元素同时分析
5、任意多个可选择的分析和识别模型
6、相互的基体效应校正模型
7、多变量非线性回归程序
8、多次测量重复性可达：0.05％(含量大于96%的样品)
9、工作温度:15℃—30℃ 
10、工作湿度：≤70% 
11、工作电压：220VAC
12、样品腔尺寸：*100mm
13、仪器尺寸：212*258*258mm
14、仪器重量：5kg
15、建议测量时间10-200S可以调
仪器配置：
1、探测模块：Si-PIN
2、X射线源：40kV、100uA
3、准直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自动切换
4、滤光片：内置AlTiCu
5、样品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，软件安装在MicrosoftWindowsCE系统操作灵活简单，很好的支持PDA系统升级和软件升级
7、指示和警告：电源指示灯，警告灯
8、保护系统：上盖打开时，高压自动关闭
9、样品放置：配万向测试支架，随心放置各种样品
10、报告输出：蓝牙打印
11、安全防护箱：400*300*350mm，4.5kg
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业；银
行，首饰销售和检测机构；电镀行业
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
标准配置
超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）
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