元素范围从硫到铀
检测限1ppm
重复性0.1
测试误差15%
分辨率160ev
X光管0-50kv
电源电压220V
环境温度15-30度
ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍,ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力,对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪,是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
玩具法规在全世界范围内不断完善,如欧盟的《玩具指令》、美国的玩具标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具标准。这些标准对于玩具企业来说,执行这些标准责无旁贷;至于说到管控成本过高的问题,其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具检测设备,X荧光光谱仪是经济有效的检测设备,它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金属含量测试(铅、镉、铬、、锑、钡、汞、硒等)、包装物料的有毒元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71,测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美,还节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。

抽真空的ROHS检测仪和其它的非抽真空的ROHS检测仪大的区别在于其多了一个真空泵的配置,在其检测环镜里是真空的状态,这减少了空气对一些轻元素的干扰,提高了检测限,也提高的检测的精准度和稳定性。
抽真空EX7900参数:
产品型号:EDX 7900
产品名称:X荧光光谱仪 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同) 同时分析元素:一次性可测几十种元素 分析精度:0.05% (含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性) 测量时间:30秒-200秒 探测器能量分辨率为:145±5eV管压:5KV-50KV 管流:50μA-1000μA测量对象状态:粉末、固体、液体输入电压:AC 110V/220V环境温度:15℃-30℃ 环境湿度:35%-70%样品腔体积:320mm×100mm外形尺寸:660mm×510mm×350mm重量:65Kg
硬件配置
超薄窗X光管 SDD硅漂移探测器 数字多道技术信噪比增强器 SNE光路增强系统 高信噪比电子线路单元 内置高清晰摄像头 自动切换型准直器和滤光片 自动稳谱装置 三重安全保护模式 可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵
应用领域
ROHS检测,无卤检测,合金检测、全元素成份分析、有害元素检测(RoHS、卤素

X荧光光谱测试仪器用于检测rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六价Cr以及总Br、Cl等元素含量的仪器,X荧光光谱测试仪器适合塑料,电子电子,玩具,皮革,线路板,汽车内饰,设备等是否符合欧盟指令标准的检测仪器。

相比之前的传统的ROHS检测仪,虽然它们大多型号也能在原基础升级为卤素测试,但需在硬件和软件上做较大的改动,且成本较高,目前市场上的能测ROHS和卤素的仪器都是分体式设计,成本较高些,而天瑞的EDX1100在算法软件上,将ROHS测试和卤素测试一体化,两者化二为一,等于是一个整体,在产品成本上大大得到了压缩,也等于是直接让利了客户,相比之前分体式设计也能同时检测ROHS和卤素的机台,EDX1100的一体化设计,成本至少降低了30%,EDX1100也采用的是新一代的铍窗X大功率光管,寿命提高了5000小时,在应用上属于通用于ROHS检测仪器,广泛应用于塑胶,五金,电子电器,化工等生产和制造领域环保临测。
技术参数
测量元素范围 :硫(S)~铀(U)测量时间:200S
检出限:分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm含量范围:1ppm~99.9%稳定性:0.01%管压:5~50KV管流:≤1000uA探测器:SDD探测器,分辨率可达125eV准直器:6种准直器自动切换滤光片:5种滤光片自由切换样品观察:高清工业摄像头环境湿度:≤70%环境温度:15℃~30℃电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
分析原理:
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪,其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=KE
式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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