分析范围0~50微米
分析误差5%
分析时间30秒
重复性0.1%
电源电压220V
EDXThick800是一款全新上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。
软件优势
1、清晰化操作界面布局
简约的布局设计,让操作员快速的掌握软件基本操作。
2、快捷键按钮设计
增加了日常镀层测量快捷键设计按钮,可快速检测,提升工作效率。
3、高清可视化窗口
可清晰直观的观测到被检测样品的状态,通过自动对焦、移动快捷键,调节到用户理想的观测效果。
4、多通道数字谱图界面
清晰化呈现被检样品的元素谱图,配合的解谱技术,便可计算出结果。
5、测试结果汇总布局设计
可快速查找当前测试数据,并可对测试数据进行报告生成,且快速查询以往测试数据。
分析元素范围：从硫（S）到铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
2019年10月23日，第北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA2019）在北京国家会议中心隆重举办。作为国际分析测试行业的盛会，今年的BCEIA是一番高朋满座的热闹景象。来自世界各地的500家仪器企业参展，天瑞仪器如期赴约，精彩亮相。
本次展会，天瑞仪器可谓是产品丰富、阵容强大。携旗下子公司上海磐合科学仪器股份有限公司（以下简称：磐合科仪）、及天瑞仪器福建分公司带领众多产品亮相本次大会。丰富的产品，前瞻的技术吸引了大批观众前来咨询，与天瑞技术人员探讨产品细节，交流应用经验。展会期间，天瑞仪器还设立了扫码赢环节，微信公众号“幸运”简单，互动性强，吸引了众多观众扫码挑战。 为期四天的盛会已落下帷幕，天瑞仪器希望通过本次展会，向更多用户展示天瑞在科学领域的创新成果。天瑞仪器将不忘初心，砥砺前行，继续谱写分析检测领域的新传奇，力争做世界的分析检测解决方案提供者，打造仪器精品，为客户创造更多价值。
X荧光镀层测厚仪配置
01 立的X/Y/Z轴控制系统
02 微焦斑X光管
03 可变高压电源
04 防撞板外加防撞激光保护检测器对仪器进行双重安全保护
05 Fast-SDD探测器
06 双激光定位装置
07 标配可自动切换的准直孔和滤光片
江苏天瑞仪器股份有限公司被授予 “火炬计划”，“江苏省”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。X荧光光谱仪系列产品被认定为“新产品”和“江苏省高新技术产品”。产品品种，为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供解决方案。
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