元素范围从硫到铀
检测限1ppm
重复性0.1
测试误差15%
分辨率160ev
X光管0-50kv
电源电压220V
环境温度15-30度
ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍,ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力,对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪,是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
RoHS是由欧盟立法制定的一项强制性标准,它的全称是《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》(Restriction
of Hazardous
Substances)。ROHS检测仪,ROHS测试仪器该标准将于2006年7月1日开始正式实施,主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准,使之更加有利于人体健康及环境保护。该标准的目的在于消除电机电子产品中的铅、汞、镉、六价铬、和醚共6项物质,并重点规定了铅的含量不能超过0.1%。其中涉及到的铅主要出处有以下几类。
[编辑本段]欧盟RoHS和WEEE指令的基本内容
欧盟议会及欧盟会于2003年2月13日在其《公报》上发布了《废旧电子电气》设备指令(简称《WEEE指令》)和《电子电气功设备中限制使用某些有害物质指令》(简称《RoHS指令》)
《RoHS指令》和《WEEE指令》规定纳入有害物质限制管理和报废回收管理的有类102种产品,前七类产品都是我国主要的出口电器产品。ROHS检测仪,ROHS测试仪器包括大型家用电器、小型家用电器、信息和通讯设备、消费类产品、照明设备、电气电子工具、玩具、休闲和运动设备、设备(被植入或被感染的产品除外)、监测和控制仪器、自动售卖机。
性能优势:
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
新一代高压电源和X光管:性能稳定可靠,实现更高的测试效率,高达100W的功率实现更高的测试效率
技术指标:
元素分析范围:硫(S)~铀(U)
检出限:1ppm
分析含量:1ppm~99.99%
重复性:0.05%(含量96%以上)
稳定性:0.05%(含量96%以上)
RoHS适用行业
1.大型家用电器:大型制冷器具、冰箱、冷冻箱、其它用于食品制冷、保鲜和储存的大型器具等。2.小型家用电器:真空吸尘器、地毯清扫机、其它清洁器具、用于缝纫、编织及其它织物加工的器具等。3.信息和通讯设备:数据处理器、个人计算机、打印机、复印设备、电气电子打字机、台式和袖珍计算器等。4.消费类产品:收音机、电视机、录象机、录音机、高录音机、功放机、音乐仪器、其他记录或复制声音、图象的产品或设备。5.照明设备:荧光灯具(家用的照明设备除外)、直型荧光灯、紧凑型荧光灯、高亮度放电灯等。6.电气电子工具:电钻、电锯、缝纫机,对木材、金属或其它材料进行车削、铣、砂磨、研磨、锯削、切割、剪切、钻孔、冲孔、折叠、弯曲或类似加工的设备等。7.玩具、休闲和运动设备:电动火车或、手持电子游戏机、电子游戏机、用于骑自行车、潜水、跑步、划船等的测算装置;带有电子或电气元件的运动设备。8.设备(被植入或被感染的产品除外):放射设备、心脏用设备、装置、肺呼吸机、核设备等。9.监测和控制仪器:烟雾探测器、发热调节器、温控器、家用或实验室设备用测量、称重或调节器具、工业安装(如在控制板上)中所用的其它仪器。10.自动售卖机:热饮料自动售卖机、瓶装或罐装热饮料或冷饮料自动售卖机、固体产品自动售卖机、钱票自动售卖机、所有自动送出各类产品的器具。说明:目前第八 、九类设备、监测和控制仪器暂不受RoHS指令限制、但是设备和设备及其零部件自2014年7月22日起应符合RoHS2.0标准要求。
玩具法规在全世界范围内不断完善,如欧盟的《玩具指令》、美国的玩具标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具标准。这些标准对于玩具企业来说,执行这些标准责无旁贷;至于说到管控成本过高的问题,其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具检测设备,X荧光光谱仪是经济有效的检测设备,它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金属含量测试(铅、镉、铬、、锑、钡、汞、硒等)、包装物料的有毒元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71,测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美,还节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
分析原理:
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪,其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=KE
式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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