元素范围从硫到铀
检测限1ppm
重复性0.1
测试误差15%
分辨率160ev
X光管0-50kv
电源电压220V
环境温度15-30度
ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍,ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力,对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪,是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
相比之前的传统的ROHS检测仪,虽然它们大多型号也能在原基础升级为卤素测试,但需在硬件和软件上做较大的改动,且成本较高,目前市场上的能测ROHS和卤素的仪器都是分体式设计,成本较高些,而天瑞的EDX1100在算法软件上,将ROHS测试和卤素测试一体化,两者化二为一,等于是一个整体,在产品成本上大大得到了压缩,也等于是直接让利了客户,相比之前分体式设计也能同时检测ROHS和卤素的机台,EDX1100的一体化设计,成本至少降低了30%,EDX1100也采用的是新一代的铍窗X大功率光管,寿命提高了5000小时,在应用上属于通用于ROHS检测仪器,广泛应用于塑胶,五金,电子电器,化工等生产和制造领域环保临测。
技术参数
测量元素范围 :硫(S)~铀(U)测量时间:200S
检出限:分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm含量范围:1ppm~99.9%稳定性:0.01%管压:5~50KV管流:≤1000uA探测器:SDD探测器,分辨率可达125eV准直器:6种准直器自动切换滤光片:5种滤光片自由切换样品观察:高清工业摄像头环境湿度:≤70%环境温度:15℃~30℃电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)

玩具法规在全世界范围内不断完善,如欧盟的《玩具指令》、美国的玩具标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具标准。这些标准对于玩具企业来说,执行这些标准责无旁贷;至于说到管控成本过高的问题,其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具检测设备,X荧光光谱仪是经济有效的检测设备,它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金属含量测试(铅、镉、铬、、锑、钡、汞、硒等)、包装物料的有毒元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71,测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美,还节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。

X射线荧光光谱仪有多种,以能量色散和波长色散为主。
1. 能量色散荧光光谱仪
能量色散型仪器大的优点是不破坏被测的材料或产品,也不需要人员操作,缺点是对铬和溴是总量测定(一般不影响使用,因为很多情况可以判定,如测铬总量超标,常可知是不是六价铬超标,特别是溴,如被作为阻燃剂加入,不管是那种溴,总量超标就不合格)。
进口或国产的各种能量色散荧光光谱仪技术水平虽有差别,但已够应对RoHS检测,用户应根据自己的能力来选购国产或进口的。国产的XR-306能量色散X射线荧光光谱仪也能满足RoHS的检测。
2.波长色散荧光光谱仪。
此种仪器的灵敏度比能量色散的高一个数量级,也就是说,所测的数据并不存在“灰色地域”,不存在测定后还需拿到检测机构复检。但仪器的价格比能量色散的贵很多,
特别是进口的百万元以上,所以没有外国公司建议用。仪器操作和能量色散一样,不需要人员。
国产BX-100R是波长色散荧光光谱仪。价格比进口的能量色散型的还便宜,使用寿命也比能量色散的长一倍(主要指探测器,能量型的一般为5年,波长型的一般为10年)。
波长型大优点是用在原材料厂上,其测定的数据准确,给生产厂以确信的合格材料。
缺点是,波长法需将被测材料粉碎压制成样本后测才准确。所以,用在材料厂适合。如不制成样本(非破坏),会因材料表面形状不同而产生不同误差。

EDX5600是国内应用多的一款设备,除了较高的性价比外,其更人性化的设计软硬件,使其在电子电器,通讯制造,家电配件,塑胶,五金等领域得到了广泛的应用,采用新一代的铍窗X大功率光管,寿命提高了5000小时,在应用上属于通用型ROHS检测仪器。
技术参数
测量元素范围 :硫(S)~铀(U) 可以测量包括ROHS卤素元素外的70多种元素。
有ROHS分析软件,只针对ROHS六项测试和卤素元素测试的窗口。一健式操作。
测试时间可人为设置,可短或长。一般测量时间:60S-200S
检出限:分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm 检出限2PPM的意思是低于2PPM的含量就检不出来。含量范围:1ppm~99.9%稳定性:0.01% 管压:5~50KV管流:≤1000uA探测器:半导体电子制冷探测器,分辨率可达165eV准直器:8种准直器自动切换滤光片:4种滤光片自由切换样品观察:高清工业摄像头环境湿度:≤70%环境温度:15℃~30℃电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
分析原理:
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪,其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=KE
式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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