使用寿命长的 X射线镀层测厚仪 膜厚检测仪

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
镀层测厚仪是针对镀层厚度测量而精心设计的新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

2、性能优势

精密的三维平台
的样品观测系统
的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样 
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

3、技术指标

分析元素范围：从硫（S）到铀（U） 
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至eV
采用的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃

昆山市市场局通过走访座谈、问卷调查等方式，筛选了多家企业，选取了天瑞仪器作为商业秘密示范点建设单位。会上，市场局就我公司成为昆山商业秘密保护示范点给予了充分肯定和高度评价，并为构建完善的商业秘密保护系统提出了宝贵的意见和建议，旨在进一步加强对商业秘密的管理，以促进我公司健康、稳步、飞跃发展。

此次天瑞仪器授牌为商业秘密保护示范点，将有效地加大公司商业秘密保护力度，切实保护公司商业秘密核心知识产权，更好的推动公司的创新发展。今后，天瑞也将发挥出示范作用，配合，推进更多示范点建设，共同做好商业秘密保护工作。

作为国内化学分析行业的，拥有多年累积的分析测试仪器的技术和实力，产品广泛应用于有色金属行业中的地质考察、矿产、冶炼、加工、实验室研究、生产制造等环节。作为此次会议的协办方，还特地安排了学者们来公司参观考察，天瑞仪器总经理应刚热情的接待了考察团一行。
2013年，天瑞仪器控股厦门质谱。
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