xrf光谱分析 元素分析仪 生产厂家
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产品描述

元素范围从硫到铀 检测限1ppm 重复性0.1 测试误差15% 分辨率160ev X光管0-50kv 电源电压220V 环境温度15-30度
ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍,ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力,对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪,是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
X荧光光谱测试仪器用于检测rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六价Cr以及总Br、Cl等元素含量的仪器,X荧光光谱测试仪器适合塑料,电子电子,玩具,皮革,线路板,汽车内饰,设备等是否符合欧盟指令标准的检测仪器。
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抽真空的ROHS检测仪和其它的非抽真空的ROHS检测仪大的区别在于其多了一个真空泵的配置,在其检测环镜里是真空的状态,这减少了空气对一些轻元素的干扰,提高了检测限,也提高的检测的精准度和稳定性。
抽真空EX7900参数:
产品型号:EDX 7900
产品名称:X荧光光谱仪 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同) 同时分析元素:一次性可测几十种元素 分析精度:0.05% (含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性) 测量时间:30秒-200秒 探测器能量分辨率为:145±5eV管压:5KV-50KV 管流:50μA-1000μA测量对象状态:粉末、固体、液体输入电压:AC 110V/220V环境温度:15℃-30℃ 环境湿度:35%-70%样品腔体积:320mm×100mm外形尺寸:660mm×510mm×350mm重量:65Kg
硬件配置
超薄窗X光管 SDD硅漂移探测器 数字多道技术信噪比增强器 SNE光路增强系统 高信噪比电子线路单元 内置高清晰摄像头 自动切换型准直器和滤光片 自动稳谱装置 三重安全保护模式 可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵
应用领域
ROHS检测,无卤检测,合金检测、全元素成份分析、有害元素检测(RoHS、卤素
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RoHS是由欧盟立法制定的一项强制性标准,它的全称是《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》(Restriction
 of Hazardous 
Substances)。ROHS检测仪,ROHS测试仪器该标准将于2006年7月1日开始正式实施,主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准,使之更加有利于人体健康及环境保护。该标准的目的在于消除电机电子产品中的铅、汞、镉、六价铬、和醚共6项物质,并重点规定了铅的含量不能超过0.1%。其中涉及到的铅主要出处有以下几类。
[编辑本段]欧盟RoHS和WEEE指令的基本内容
欧盟议会及欧盟会于2003年2月13日在其《公报》上发布了《废旧电子电气》设备指令(简称《WEEE指令》)和《电子电气功设备中限制使用某些有害物质指令》(简称《RoHS指令》)
《RoHS指令》和《WEEE指令》规定纳入有害物质限制管理和报废回收管理的有类102种产品,前七类产品都是我国主要的出口电器产品。ROHS检测仪,ROHS测试仪器包括大型家用电器、小型家用电器、信息和通讯设备、消费类产品、照明设备、电气电子工具、玩具、休闲和运动设备、设备(被植入或被感染的产品除外)、监测和控制仪器、自动售卖机。
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优化散热设计,散热效果更好;
内置高清摄像头,准确的观察样品放置位置;
打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚;
采用探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低;
采用SES信号增强处理系统,有效提高测量的灵敏度,让测量更;
一键式自动测试,使用更简单,操作更方便,界面更人性化;
七种光路校正准直系统,能根据不同样品自动切换;
一体化散热设计,使整机散热性能得到较大提高,保证了核心部件的运行稳定;
机芯温度技术,保证X射线源的可靠运行,使用寿命长,降低使用成本;
多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程, 让仪器工作更稳定;
卤素用测试软件,标准视窗设计,操作方便;
本机采用USB接口,有效地保证了数据准确高速有效的传输。
分析原理:
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪,其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=KE
式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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