xrf手持 rohs

ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍，ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力，对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪，是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
RoHS适用行业
1.大型家用电器：大型制冷器具、冰箱、冷冻箱、其它用于食品制冷、保鲜和储存的大型器具等。２.小型家用电器：真空吸尘器、地毯清扫机、其它清洁器具、用于缝纫、编织及其它织物加工的器具等。３.信息和通讯设备：数据处理器、个人计算机、打印机、复印设备、电气电子打字机、台式和袖珍计算器等。４.消费类产品：收音机、电视机、录象机、录音机、高录音机、功放机、音乐仪器、其他记录或复制声音、图象的产品或设备。５.照明设备：荧光灯具（家用的照明设备除外）、直型荧光灯、紧凑型荧光灯、高亮度放电灯等。６.电气电子工具：电钻、电锯、缝纫机，对木材、金属或其它材料进行车削、铣、砂磨、研磨、锯削、切割、剪切、钻孔、冲孔、折叠、弯曲或类似加工的设备等。７.玩具、休闲和运动设备：电动火车或、手持电子游戏机、电子游戏机、用于骑自行车、潜水、跑步、划船等的测算装置；带有电子或电气元件的运动设备。８.设备（被植入或被感染的产品除外）：放射设备、心脏用设备、装置、肺呼吸机、核设备等。９.监测和控制仪器：烟雾探测器、发热调节器、温控器、家用或实验室设备用测量、称重或调节器具、工业安装（如在控制板上）中所用的其它仪器。１０.自动售卖机：热饮料自动售卖机、瓶装或罐装热饮料或冷饮料自动售卖机、固体产品自动售卖机、钱票自动售卖机、所有自动送出各类产品的器具。说明：目前第八 、九类设备、监测和控制仪器暂不受RoHS指令限制、但是设备和设备及其零部件自2014年7月22日起应符合RoHS2.0标准要求。

X射线荧光光谱仪有多种，以能量色散和波长色散为主。
1． 能量色散荧光光谱仪
能量色散型仪器大的优点是不破坏被测的材料或产品，也不需要人员操作，缺点是对铬和溴是总量测定（一般不影响使用，因为很多情况可以判定，如测铬总量超标，常可知是不是六价铬超标，特别是溴，如被作为阻燃剂加入，不管是那种溴，总量超标就不合格）。
进口或国产的各种能量色散荧光光谱仪技术水平虽有差别，但已够应对RoHS检测，用户应根据自己的能力来选购国产或进口的。国产的XR-306能量色散X射线荧光光谱仪也能满足RoHS的检测。
2．波长色散荧光光谱仪。
此种仪器的灵敏度比能量色散的高一个数量级，也就是说，所测的数据并不存在“灰色地域”，不存在测定后还需拿到检测机构复检。但仪器的价格比能量色散的贵很多，
 特别是进口的百万元以上，所以没有外国公司建议用。仪器操作和能量色散一样，不需要人员。
国产BX-100R是波长色散荧光光谱仪。价格比进口的能量色散型的还便宜，使用寿命也比能量色散的长一倍（主要指探测器，能量型的一般为5年，波长型的一般为10年）。
波长型大优点是用在原材料厂上，其测定的数据准确，给生产厂以确信的合格材料。
缺点是，波长法需将被测材料粉碎压制成样本后测才准确。所以，用在材料厂适合。如不制成样本（非破坏），会因材料表面形状不同而产生不同误差。

玩具法规在全世界范围内不断完善，如欧盟的《玩具指令》、美国的玩具标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具标准。这些标准对于玩具企业来说，执行这些标准责无旁贷；至于说到管控成本过高的问题，其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具检测设备，X荧光光谱仪是经济有效的检测设备，它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金属含量测试（铅、镉、铬、、锑、钡、汞、硒等）、包装物料的有毒元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71，测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美，还节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。

优化散热设计，散热效果更好；
内置高清摄像头，准确的观察样品放置位置；
打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚；
采用探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低；
采用SES信号增强处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更；
一键式自动测试，使用更简单，操作更方便，界面更人性化；
七种光路校正准直系统，能根据不同样品自动切换；
一体化散热设计，使整机散热性能得到较大提高，保证了核心部件的运行稳定；
机芯温度技术，保证X射线源的可靠运行，使用寿命长，降低使用成本；
多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程, 让仪器工作更稳定；
卤素用测试软件，标准视窗设计，操作方便；
本机采用USB接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。
分析原理：
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪，其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=KE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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