xrf射线荧光光谱仪 光谱

ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍，ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力，对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪，是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，特别设计该款EDX 2000C。 
应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
性能优势:
下照式：可满足各种形状样品的测试需求 
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用 
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点 
高分辨率探测器：提高分析的准确性 
新一代高压电源和X光管：性能稳定可靠，实现更高的测试效率
仪器配置:
移动样品平台 
信噪比增强器 
电制冷Si-PIN探测器 
信号检测电子电路 
高低压电源 
新型X光管 
计算机及喷墨打印机

抽真空的ROHS检测仪和其它的非抽真空的ROHS检测仪大的区别在于其多了一个真空泵的配置，在其检测环镜里是真空的状态，这减少了空气对一些轻元素的干扰，提高了检测限，也提高的检测的精准度和稳定性。
抽真空EX7900参数：
产品型号：EDX 7900
产品名称：X荧光光谱仪 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） 同时分析元素：一次性可测几十种元素 分析精度：0.05% （含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性） 测量时间：30秒-200秒 探测器能量分辨率为：145±5eV管压：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃ 环境湿度：35%-70%样品腔体积：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg
硬件配置
超薄窗X光管 SDD硅漂移探测器 数字多道技术信噪比增强器 SNE光路增强系统 高信噪比电子线路单元 内置高清晰摄像头 自动切换型准直器和滤光片 自动稳谱装置 三重安全保护模式 可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵
应用领域
ROHS检测，无卤检测，合金检测、全元素成份分析、有害元素检测（RoHS、卤素

性能优势:
下照式：可满足各种形状样品的测试需求 
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用 
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点 
高分辨率探测器：提高分析的准确性 
新一代高压电源和X光管：性能稳定可靠，实现更高的测试效率，高达100W的功率实现更高的测试效率
技术指标:
元素分析范围：硫（S）～铀（U） 
检出限：1ppm
分析含量：1ppm～99.99％ 
重复性：0.05％（含量96％以上） 
稳定性：0.05％（含量96％以上）

对一些元素有很好的检测下限以及精度。综合应用FP法、网络法、经验系数法、基本参数法分析软件。精心设计的开放性工作曲线功能，特别适用于多材料的工厂制程控制。
适用于：五金、接插件、电子，电气，连接器，电镀，PCB，塑料，皮革，鞋材等来料的ROHS分析，重金属分析。
产品特点：
1、从硫（S）到铀（U）的快速元素分析；
2、检测灵敏度高；
3、测量时间短；
4、彩色CCD系统用于样品图像观察；
5、有多种规格的准直器和滤光片选用，自动切换，满足各种物质测试方式应用；
6、电制冷探测器，提高测量稳定性，提高分析的准确性，无需耗材；
7、机械结构简单，可靠；
8、定性定量分析算法：FP基本算法，经验系数法、网络法、基本参数法；
9、全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关设计，更好地**操作员的人身。流水线型外观，美观，仪器内部空间大样品腔，仪器内部通风性优，并有效屏蔽电磁干扰；
10、超短光路设计，风冷型的X光管配套特有的光管管控程序程序，散热更好，良好的散热系统，更能保证仪器的超长使用，并能有效的X光管的寿命；
11、上照式：可满足各种形状样品的测试需求，样品成像准直系统，实现对样品的准确点测；
12、自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成，设置了自动防护开关，以确保用户使用。
分析原理：
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪，其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=KE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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