国产x射线荧光测厚仪 x射线膜厚仪
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产品描述

分析范围0-50微米 分析精度5% 较薄测试0.005微米 仪器架构上照式 仪器重量90公斤 分析时间30S
天瑞仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用:
为了更好的服务客户,**用户仪器的良好性能。2021年3月19日,由江苏天瑞仪器股份有限公司(以下简称天瑞仪器)举办的客户培训会议在浙江省宁波市阳光豪生大酒店举行。
      本次培训会采用理论知识与现场实际操作相结合的形式,旨在提高用户对天瑞仪器产品应用操作及后期运维的能力,让大家在实际操作中得心应手。来自浙江地区的近百位用户积极参加。现场进行培训的仪器有EDX1800B能量色散X荧光光谱仪、THICK800A X荧光镀层测厚仪、GCMS6800气相色谱质谱联用仪、LC310液相色谱系统、OES8000S直读光谱仪以及环境试验箱操作培训。
根据客户实际需求,培训节奏紧凑且具针对性,天瑞仪器技术们通过精心授课,现场操作教习,为参会人员提供了的学习机会,使其能够正确、的使用仪器。
国产x射线荧光测厚仪
测厚仪产品特性
★进口高精度传感器,保证了测试精度
★严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
★测量头自动升降,避免了人为因素造成的系统误差
★手动、自动双重测量模式,更方便客户选择
★配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果
★打印值、小值、平均值及每次测量结果,方便用户分析数据
★仪器自动保存多100组测试结果,随时查看并打印
★标准量块标定,方便用户快速标定设备
★测厚仪配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,人为误差小
★软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户
★配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输
国产x射线荧光测厚仪
镀层测厚仪是针对镀层厚度测量而精心设计的新型仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

2、性能优势

精密的三维平台
的样品观测系统
的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器,自动切换
双重保护措施,实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样 
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示测试结果

3、技术指标

分析元素范围:从硫(S)到铀(U) 
同时检测元素:多24个元素,多达五层镀层
检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
稳定性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低至eV
采用的微孔准直技术,小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 :小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度 15℃~30℃
国产x射线荧光测厚仪
测厚仪
测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。
这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
2013年4月19日,天瑞连续第五年蝉联“具影响力厂商”,EDX-P730手持式X荧光光谱仪蝉联“年度受关注仪器”。
http://www.tianruiyiqi.com
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