x荧光镀层测厚仪型号 膜厚仪
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产品描述

分析范围0-50微米 分析精度5% 较薄测试0.005微米 仪器架构上照式 仪器重量90公斤 分析时间30S
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
作为国内化学分析行业的,拥有多年累积的分析测试仪器的技术和实力,产品广泛应用于有色金属行业中的地质考察、矿产、冶炼、加工、实验室研究、生产制造等环节。作为此次会议的协办方,还特地安排了学者们来公司参观考察,天瑞仪器总经理应刚热情的接待了考察团一行。
x荧光镀层测厚仪型号
天瑞仪器一直以来都是以客户需求为出发点,解决客户的后顾之忧。通过此次会议,不仅加强了多方联系,获得面对面交流的机会,同时也提高了用户的操作水平,解决了用户在日常操作中遇到的问题,帮助用户更好的使用仪器。
x荧光镀层测厚仪型号
此次天瑞仪器授牌为商业秘密保护示范点,将有效地加大公司商业秘密保护力度,切实保护公司商业秘密核心知识产权,更好的推动公司的创新发展。今后,天瑞也将发挥出示范作用,配合,推进更多示范点建设,共同做好商业秘密保护工作。
x荧光镀层测厚仪型号
测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。
测量注意事项:
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
20112011年1月25日,天瑞仪器在深证创业板块上市。代码为300165。
http://www.tianruiyiqi.com
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